Дистанционный анализатор характеристик ближнего поля VNF - 200 VCSEL предназначен для анализа характеристик ближнего поля поверхности VCSEL и имеет характеристики быстрой скорости измерения, высокого оптического разрешения и высокой точности измерения. Инструмент сочетает в себе микрооптическую систему и систему визуализации и оптимизирует конструкцию в соответствии с характеристиками VCSEL для достижения высокочастотного анализа излучения микроизображения VCSEL. Получение двумерной матрицы поверхности VCSEL, обнаружение плохих пятен и данные об излучающей яркости с помощью одного измерения, а также получение одноточечного размера. Оснащен специальным аналитическим программным обеспечением, которое позволяет выводить отчеты об испытаниях, соответствующие стандартам. Быстрый и точный анализ поверхностных характеристик VCSEL в производственных линиях и лабораториях.